分光测色仪通过测量物体反射光的相对光谱功率分布，得到物体表面的反射光谱，再与CIE光谱三刺激值加权相乘，积分后求出样品表面颜色的三刺激值、色坐标、色差等其他参数，其主要由照明系统、分光系统、光电检测系统等组成。本文对分光测色仪照明系统与分光系统的技术要求做了介绍。

分光测色仪照明系统的技术要求：

分光测色仪的照明系统包括了照明光源与照明与观测几何条件。系统所要求的照明光源应在可见光波长范围内具有连续的光辐射，并应具有一定的光强度。在每个波长处都具有相近似的足够强的光谱能量，以提高仪器的信噪比。在分光测色仪中，CIE优先推荐的是D65标准光源，其相当于色温为6504k的日光的光谱功率分布，在实际应用中多采用脉冲氙灯来模拟D65光源；另外也有采用卤钨灯来模拟标准A光源作为照明光源。为了达到均匀照明的目的，在CIE推荐使用的几种标准照明与观测条件中，分光测色仪大多采用d/8与d/0结构，而45/0结构同样也有仪器采用。其中d/8

结构由于可以同时测量SCI和SCE两种测量模式，为分光测色仪的最佳照明与观测几何条件。

现有的分光系统大多采用单光束和双光束光路两种结构。单光束结构简单，价格便宜。单光束仪器只有一个光栅和一个检测器。所以测量时光源点亮两次，分别测样品和参考白板。而两次测量时的系统误差（光源光强分布差异，光路变化，温度变化，电路漂移等）认为样品和参考白板之间的差异。单光束光路结构简单，但是稳定性差，随着光源的波动测量效果有一定的误差，分光结构中杂散光较多，信噪比大。由于测量时光源点亮两次，所以如光源的变化会导致误差变大，而不同的仪器之间也存在着误差。

双光束光路结构稳定性好，可以有效的消除由于光源波动而产生的误差，双光束仪器有两个光栅和两个传感器。测量过程中光源只需要点亮一次就可以，同时测量样品与参考点反射光谱，有效地就克服了光源变化所带来的误差，测量数据的精度非常高。双光束光路结构精度高，稳定性好，但是由于需要两个光栅和透镜，无形中提高了成本。

分光测色仪分光系统的技术要求：

将混合光分散成一系列单色光光谱的现象称为分光现象。常用的分光元件有光栅、棱镜以及滤光片等。分光测色仪中分光系统最终目的都是将物体对各个波长的不同反射光区分开，并依照波长照射到传感器上。其采用的分光元件多种多样，比如多片滤光片，平面光栅，凹面光栅，有的直接采用多个单色光光源直接作为照明光源。