光泽度仪是测定材料表面光泽度的仪器，即以发自标准光源的光从一定角度照射的试样表面，由光电池和检流计测定正反射成分的光电装置。本文对光泽度仪的光学几何条件及光学光路结构做了介绍，对表面光泽度测量仪器感兴趣的朋友不妨了解一下！

光泽度仪的光学几何条件：

镜向光泽度计的几何条件主要是指入射角的大小，有关测试标准对入射角和接收角及其公差也作了规定。入射角在光泽测量中极为重要，通常用 20°，45°，60°，75°，85°，它们分别用于不同样品的测量。一般来说，大角度用于低光泽样品，小角度用于高光泽样品，中角度使用范围较宽。下表是有关标准推荐的使用举例。

光泽度仪的光学光路结构：

按光泽度仪的照明光束和接收光束分，光泽度仪光学系统有二种光路结构，一种是平行光路结构，如下图所示：

一种是会聚光路结构，如下图所示：

如果这两种结构有相同的照明视场角和接收视场角，相同的光源，则这两种结构是等效的。

光泽度仪的一般结构原理：

光泽度仪结构一般采用平行光路的方法。这种结构具有相同的照明视场角和接收视场角，如上图所示。光源一般采用标准A光源。从光源发出的光，经过升温滤光片，再经过聚光镜照到入射视场光阑处，经入射透镜照射到被测样品处。然后，从被测样品表面反射，经过接收透镜、接收视场光阑、滤光片后射到接收器光电池上，经过电学处理后进行显示。入射、接收光视场光阑用来控制入射光斑和接收光斑的大小。为了保证仪器的测量准确度，仪器要有较高的定位准确度。

在此仪器中，光源要用稳压电源，探测器《光电池）的光谱灵敏度经V（λ）滤光片修正后，与CIE标准光度观察者的光谱光视效率V（λ）相符。最近，光泽度仪一般均采用微电脑处理，数字显示。利用多次采样，提高测量准确度。